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CA BS200N電子開關(guān)的負(fù)載阻抗BS 200N系列半導(dǎo)體開關(guān)的開關(guān)性能應(yīng)在0.6ohm至50uH的負(fù)載阻抗下進(jìn)行驗(yàn)證。 CA BS 200N直接連接到BS 200Nx的輸出。BS 200Nx的開關(guān)參數(shù)是在連接負(fù)載的情況下測(cè)量的。

AutoWave車載供電系統(tǒng)波形記錄發(fā)生模擬器在當(dāng)今的汽車測(cè)試中，電池仿真越來越成為一個(gè)問題。波形變得越來越復(fù)雜。諸如曲柄之類的標(biāo)準(zhǔn)化單一現(xiàn)象仍在測(cè)試中，但是對(duì)于在真實(shí)條件下測(cè)試整車或整車的一部分，現(xiàn)實(shí)生活中的信號(hào)具有更高的興趣。常見的任意生成器通常無法測(cè)試這些要求，特別是如果需要在一次測(cè)試中迭代各種測(cè)試參數(shù)時(shí)。

AMP200N2低頻信號(hào)和放大器AMP 200N2被設(shè)計(jì)為低頻信號(hào)源，可生成正弦信號(hào)，用于模擬航空電子，軍事和汽車行業(yè)中各種標(biāo)準(zhǔn)所要求的紋波噪聲和接地偏移噪聲。

特測(cè)NSG3060A多功能抗擾度測(cè)試系統(tǒng)Teseq的新型NSG 3060A傳導(dǎo)抗擾度發(fā)生器將極為成功的NSG 3000系列經(jīng)過驗(yàn)證的，用戶友好的設(shè)計(jì)提升到了一個(gè)新的高度。這種創(chuàng)新的設(shè)計(jì)使用模塊化體系結(jié)構(gòu)來提供通用系統(tǒng)，該系統(tǒng)可以針對(duì)基本測(cè)試需求進(jìn)行配置，并可以擴(kuò)展以滿足復(fù)雜的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的需求。

Teseq特測(cè)NSG3040A多功能抗擾度測(cè)試儀一箱式解決方案系統(tǒng) 浪涌電壓至4.8 kV EFT /突發(fā)至4.8 kV / 1 MHz PQT至16 A / 300 VAC和DC 易于使用的7英寸彩色觸摸屏 測(cè)試運(yùn)行時(shí)可以更改參數(shù) 多種可選測(cè)試配件

特測(cè)NSG439靜電模擬器機(jī)器人應(yīng)用的完整解決方案 緊湊而特殊設(shè)計(jì)的外殼 *的機(jī)器人排氣適配器

瑞士EM test UCS 200N150汽車瞬變模擬器汽車瞬變脈沖超小型傳導(dǎo)抗干擾信號(hào)模擬器將電快速瞬變 / 脈沖群模塊，微脈沖模塊和所需的耦合網(wǎng)絡(luò)集

EM test UCS200N50汽車瞬變模擬器UCS 200N 系列汽車瞬變脈沖超小型傳導(dǎo)抗干擾信號(hào)模擬器將電快速瞬變 / 脈沖群模塊，微脈沖模塊和所需的耦合網(wǎng)絡(luò)集